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面议 上海市静安区 全职 硕士及以上 1人 2026-12-31
2026-02-25 14:02:51
招聘人数:1人 地点:上海(静安区-大宁音乐广场)
岗位职责
1. 面向半导体量测/检测设备(Metrology & Inspection)研发并迭代视觉/信号类 AI 算法,包括缺陷检测、缺陷分割、异常检测与分类等,提升漏检率/误报率/吞吐/稳定性等核心指标。
2. 针对晶圆缺陷“小目标、低对比、强噪声、类别不均衡、跨工艺/跨机台差异”等特点,设计并实现有效的模型方案(如多尺度检测、分割网络、度量学习、少样本/自监督/领域自适应等)。
3. 建立数据与评测闭环:数据清洗与标注规范、难例挖掘、训练与实验管理、指标体系与基准集建设,输出可复现的实验结论与版本对比报告。
4. 与软件/硬件/系统团队协作完成算法上机与性能优化:推理加速、内存/时延优化、接口联调与异常定位,保障在设备端长期稳定运行。
5. 跟踪行业与学术进展,将可落地的新方法应用到量测/检测场景,并推动产品化交付。
任职要求
1. 计算机、电子、自动化、数学等相关专业,硕士优先(优秀本科且有对口项目可放宽)。
2. 熟练使用 PyTorch / TensorFlow 之一,具备从数据到训练到评测的完整项目经验;在检测/分割/异常检测/信号处理至少一个方向有深入实践。
3. 熟练 Python,具备良好工程能力(Linux、Git、可复现实验、文档与问题定位能力);有 C++ 经验更佳。
4. 具备扎实的数学与算法基础(概率统计、优化、线代),能独立完成模型分析与改进。
5. 良好的跨团队沟通与协作能力,能面向指标与交付结果推进工作。
加分项
· 有半导体设备/工业 AOI/量测检测算法经验;了解晶圆工艺与缺陷类型/缺陷 taxonomy。
· 有部署与加速经验:ONNX/TensorRT/OpenVINO、CUDA profiling、多线程流水线、端侧推理优化。
· 有数据不均衡、少样本、无监督/自监督、领域迁移、合成数据/仿真数据等相关经验。
· 有现场问题闭环经验:误报/漏检归因、数据漂移监控、版本回归验证。
职位类别:电子/半导体/仪表仪器
专业要求:不限
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